Intel外籍技术专家莅临我司共同进行技术探讨-RFID服装标签-理德物联网


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Intel外籍技术专家莅临我司共同进行技术探讨

发布时间:2019-06-17 11:37

2019年6月13日,Intel公司的外籍技术专家一行多人莅临我司进行技术交流访问,总公司营销中心总经理朱曲鹰、广州理德总经理张海军及科研人员共同出席现场交流会议,北京办李乃东等远程参与,会上就RFID未来发展趋势、技术应用等方面进行了深入的交流和探讨。

     技术交流

       会议上,Intel技术专家高度认可了我司基于RFID在时尚行业的全链路可视化解决方案。


      RFID时尚行业全供应链解决方案融合了物联网、大数据、人工智能等技术,改变了传统的时尚行业供应链管理方式,帮助品牌商实现全程追溯、高效、精准的可视化全供应链管理。同时,以技术代替人工,自动分拣、高效配货,也大大加快了供应链的运转速度。


在供应链的门店端,还研发了V-Prime——AIoT驱动的智慧门店管理平台,为品牌商建立智能闭环的人、货、场一体化应用:全程追溯、防窜、防伪,快速进行盘点、理货、找货;消费者行为数据搜集、促销管理;为顾客提供便捷、流畅的购物体验、实现线上线下的融合、个性化精准服务推送。



留影

       接下来,广州理德将与Intel深入合作,明确下一步在边缘计算,平台开发的合作方向,共同在RFID技术应用方案更上一层楼。


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